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電機及(ji)電機控制(zhi)器 - 新能(neng)源汽車解決方案
  • 新能(neng)源汽車MCU產(chan)線老(lao)化(hua)&EOL下線功能(neng)測試

    新能(neng)源汽車MCU產(chan)線老(lao)化(hua)&EOL下線功能(neng)測試

    電機控制(zhi)器(MCU)產(chan)線老(lao)化(hua)&EOL下線功能(neng)測試主(zhu)要是在MCU完成裝配後,對MCU進行老(lao)化(hua)測試和功能(neng)測試。使下線裝箱的(de)MCU都(du)是合格(ge)的(de)產(chan)品(pin)。這個測試系統由2部分組成︰MCU老(lao)化(hua)測試系統和MCU功能(neng)測試系統。測試過程(cheng)操(cao)作簡易,以便于滿足生產(chan)節(jie)拍要求(qiu)和產(chan)線易操(cao)作的(de)要求(qiu)。所有(you)測試數據可以追蹤和保存,並(bing)可打印(yin)出每個產(chan)品(pin)的(de)測試數據單。
  • 新能(neng)源汽車MCU耐久+功能(neng)測試系統

    新能(neng)源汽車MCU耐久+功能(neng)測試系統

    電機控制(zhi)器(MCU)耐久+功能(neng)測試系統除了可以提供(gong)模擬控制(zhi)器的(de)外部環境︰電源,溫箱,水冷系統等,還(huai)可以提供(gong)模擬電機的(de)參數︰感性負載,阻性負載,電機溫度模擬,電機旋變(bian)參數模擬。可用于大(da)功率(lv)的(de)MCU耐久測試,也(ye)可以用于MCU的(de)故障查找(zhao)。
  • 新能(neng)源汽車MCU耐久測試系統

    500彩票新能(neng)源汽車MCU耐久測試系統

    電機控制(zhi)器(MCU)測試系統是一(yi)個高性能(neng)耐久測試平台,通過提供(gong)控制(zhi)器的(de)外部環境︰電源,負載,溫箱,水冷系統等,專門為MCU提供(gong)耐久性測試。提供(gong)可靠(kao)的(de)MCU產(chan)品(pin)與電機一(yi)起(qi)做(zuo)法規測試或(huo)者參數標定,從(cong)而可以減少標定台架的(de)使用時間和提高通過率(lv)。
  • 電動汽車電機控制(zhi)器功能(neng)測試系統

    電動汽車電機控制(zhi)器功能(neng)測試系統

    電動汽車電機控制(zhi)器功能(neng)調試系統能(neng)夠為工程(cheng)師調試過程(cheng)中(zhong)提供(gong)便利和安全,提高工作效率(lv)。電機控制(zhi)器功能(neng)調試系統適(shi)shi)糜詰緇?zhi)器溫升測試,信(xin)號可靠(kao)性測試,保護功能(neng)測試以及(ji)老(lao)化(hua)試驗等等應(ying)用場合。
  • 電動汽車PEU耐久測試系統

    電動汽車PEU耐久測試系統

    電動汽車PEU耐久測試系統解決方案主(zhu)要針對電動汽車PEU老(lao)化(hua)測試而設計,能(neng)夠對電動汽車PEU在各種(zhong)工況下進行老(lao)化(hua)測試。
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